Описание структроскопа ВЭ-26НП
Структуроскоп ВЭ-26НП предназначен для неразрушающего контроля качества изделий из немагнитных сплавов на основе алюминия или меди при помощи измерения их удельной электрической проводимости.
ПРИМЕНЕНИЕ ВЭ-26НП
Сортировка изделий по удельной электрической проводимости или ее приращению относительно некоторого базового значения и контроль различных механических характеристик электропроводящих неферромагнитных материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводимостью и этими характеристиками.
Встроенный термометр позволяет учесть влияние температуры окружающей среды и повысить точность измерения.
Память сохраняет 4096 измерений для последующей передачи на ПК.
Технические характеристики
| Диапазон измерений абсолютного значения удельной электрической проводимости, МСм/м | 5...60 | 
| Диапазон измерений приращений удельной электрической проводимости, МСм/м | 9,99...+9,99 | 
| Предел допускаемой основной относительной погрешности измерений, %, не более  | — в диапазоне измерений от 5 до 40 МСм/м 2 — в диапазоне измерений от 40 до 60 МСм/м 3 | 
| Допустимый зазор между преобразователем и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более | 0,25 | 
| Индикация результатов измерений | цифровая | 
| Электропитание | от батареи типа РРЗ, В 9 | 
| Потребляемая мощность, мВт, не более | 40 | 
| Диапазон рабочих температур, ?С | 5...40 | 
| Габариты, мм | 157 х 84 х 30 | 
| Масса, г | 270 ± 20 | 
 
		
					 
		
	 
								 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
												 
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
  
 